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40nm工艺 三星低电压DDR3内存功耗测试

  我们利用新添置的Aitek AWE2101数字功率计和配套的软件测试了平台在几种不同配置下的功耗,AWE2101是一个高精度的数字功耗测试仪:


5位数字精度


输出到计算机上

  测试方法上,我们使用了多种和内存有关的软件,当然它们通常也和处理器很有关系。完全隔绝处理器的内存测试就正常的硬件平台而言是不存在的。

  我们使用的Prime95是一个大质数寻找、验证软件,它能很充分地利用处理器的各种运算单元。它具有三种预设的测试方式:Small FFTs(CPU压力测试,不使用内存)、In-place large FFTs(使用部分内存)、Blend(使用较多的内存)。在Blend模式上,使用内存和不使用内存的功率表现是不同的,这也可以部分地看出平台内存功耗占用。

  此外,使用的测试软件还有MEMTest 4.0和EVEREST里面的内存性能基准测试。

功耗测试

  显然新工艺的内存更为节电,在Prime95和MEMTest上比较明显,而闲置状态下功耗差距很小(不过并不是可以忽略)。大致上,使用6条50nm工艺内存的情况和使用12条40nm工艺内存差不多。

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